Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman (2017)
Francisco, Gabriella Christe; Souza, Roberto Martins de (Orientador) 
Fonte: Resumos. Nome do evento: Simpósio Internacional de Iniciação Científica e Tecnológica da USP - SIICUSP. Unidade: EP
Assuntos: FILMES FINOS, NITRATOS, TITÂNIO
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ABNT
FRANCISCO, Gabriella Christe. Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman. 2017, Anais.. Sao Paulo: Usp, 2017. Disponível em: https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210. Acesso em: 20 maio 2024.APA
Francisco, G. C. (2017). Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman. In Resumos. Sao Paulo: Usp. Recuperado de https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210NLM
Francisco GC. Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman [Internet]. Resumos. 2017 ;[citado 2024 maio 20 ] Available from: https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210Vancouver
Francisco GC. Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman [Internet]. Resumos. 2017 ;[citado 2024 maio 20 ] Available from: https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210
